Equipamiento para sistema de focalización de haces de iones (FIB) integrado en microscopio SEM-FEG con rutinas de preparación de muestras TEM, tomografía, estereografía, catadoluminiscencia, medidas in-situ y reconstrucción/tomografía y Prototipado 3D FEDBID, con destino al Instituto de Microscopía Electrónica y Materiales (Imeymat) de la Universidad de Cádiz. PAIDI. ID: 5764

This tender with title Equipamiento para sistema de focalización de haces de iones (FIB) integrado en microscopio SEM-FEG con rutinas de preparación de muestras TEM, tomografía, estereografía, catadoluminiscencia, medidas in-situ y reconstrucción/tomografía y Prototipado 3D FEDBID, con destino al Instituto de Microscopía Electrónica y Materiales (Imeymat) de la Universidad de Cádiz. PAIDI. ID: 5764 -- Scanning electron microscopes has been published on Bidding Source portal dated 27 Apr 2021 for the country of Spain. It has been categorized on Scanning electron microscopes. For similar tenders you can see tenders mentioned below of this page.